De voorspellende waarde van CT-scans in het semi-longitudinale en axiale vlak bij beoordeling van het cochleaire lumen voorafgaand aan cochleaire implantatie

  • A.F. van Olphen (Speaker)

Activity: Talk or presentation › Oral presentation › Academic

Period2 Nov 2000
Event title197e KNO-vergadering (AMC-Amsterdam)
Event typeSeminar